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簡要描述:MiniTest 7400測厚儀精密支架探頭技術(shù)參數(shù):1.多點(diǎn)校準(zhǔn),在實(shí)驗(yàn)室條件下符合提供的標(biāo)準(zhǔn)2.零點(diǎn)校準(zhǔn),并且校準(zhǔn)值和預(yù)期的涂層厚度接近3.使用精密支架,不適用HD探頭
詳細(xì)介紹
品牌 | ElektroPhysik/德國EPK | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
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價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
德國EPK MiniTest 7400測厚儀
涂層測厚儀:
采用電磁感應(yīng)法測量涂層的厚度。位于部件表面的探頭產(chǎn)生一個(gè)閉合的磁回路,隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變,該磁回路將不同程度的改變,引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以地測量探頭與鐵磁性材料間的距離,即涂層厚度。用于測量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度.
特征:
探頭技術(shù)參數(shù):
1.多點(diǎn)校準(zhǔn),在實(shí)驗(yàn)室條件下符合提供的標(biāo)準(zhǔn)
2.零點(diǎn)校準(zhǔn),并且校準(zhǔn)值和預(yù)期的涂層厚度接近
3.使用精密支架,不適用HD探頭
4.如果選擇“快速”,測量速度主要取決于操作
5.根據(jù) DIN 55350第13部分
6.多點(diǎn)校準(zhǔn)值優(yōu)于獲得的數(shù)據(jù).
7.包括涂層
吉馨儀器主要經(jīng)營的儀器有EPK壁厚測厚儀MiniTest FH7200 FH4探頭 測頭FH 4.1 EPK壁厚測厚儀MiniTest FH7400 EPK涂層測厚儀探頭Printer MiniPrint7000 A/B掃描超聲波測厚儀DMS2E/DMS2/DMS2TC 超聲波測厚儀TT130 超聲波測厚儀TT120 高精密超聲波測厚儀PX-7DL 高精密超聲波測厚儀PX-7 A/B掃描高精密超聲波測厚儀PVX 超聲波測厚儀TT100 高精密超聲波測厚儀CL400探頭 帶A/B掃描功能的超聲波測厚儀MVX 高精密超聲波測厚儀CL5 超聲波測厚儀TT110 超聲波測厚儀MMX-6 A/B掃描超聲波測厚儀DMS Go 水下超聲波測厚儀UMX-2 超聲波測厚儀MMX-6DL 一體化超聲波測厚儀PocketMIKE 超聲波測厚儀PosiTect0rUTG Std 超聲波測厚儀MX-3 超聲波測厚儀MX-5 超聲波測厚儀PosiTect0rUTGME 超聲波測厚儀MX-5DL 超聲波測厚儀DM5E Basic 超聲波測厚儀DM5E 超聲波測厚儀DM5EDL 濕膜測厚儀WetTest 德國EPK GalvanoTest小樣品夾具 德國EPK庫侖鍍層測厚儀GalvanoTest 2000 超聲波涂層測厚儀PosiTector200 庫侖鍍層測厚儀GalvanoTest 3000 涂層測厚儀
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